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晶體管特性圖示儀原理及優(yōu)點(diǎn)介紹

日期:2025-04-27 20:27
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摘要:
原理: 
      晶體管輸出特性測量原理,需測量的2個(gè)物理量是晶體管的集電極電流Ic和集電極電壓Uce。待測管的集電極和基極分別接入鋸齒波和階梯波掃描信號。集電極輸出接示波管X軸輸入,發(fā)射極輸出接示波管Y軸輸入,Rc為集電極功耗限制電阻,Re為集電極電流取樣電阻。

優(yōu)點(diǎn):
      (1) 波形輸出亮度均勻:這是由于該電路的水平掃描電壓為線性度良好的鋸齒波。
  (2) 波形沒有閃爍現(xiàn)象:由于該電路的水平掃描頻率達(dá)到1 700 Hz,而對照的通用晶體管特性圖示儀的水平掃描頻率僅為100 Hz,輸出波形存在閃爍現(xiàn)象,當(dāng)輸出的Ic級數(shù)較多時(shí)尤為明顯。
  (3)波形沒有抖動(dòng):由于該電路鋸齒波和階梯波均由同一個(gè)555多諧振蕩器產(chǎn)生,存在嚴(yán)格的同步關(guān)系,而對照的通用晶體管特性圖示儀的階梯波由水平掃描的正弦脈沖觸發(fā)產(chǎn)生,觸發(fā)電壓存在一定誤差,使輸出波形存在一定的抖動(dòng)現(xiàn)象。

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